74ABTH182502APMG4
|
Кол-во:
Заказать Доставка: 2-3 недели
|
||
| Название: | 74ABTH182502APMG4 | ||
| Описание: | Специальные функциональные логические элементы Scan Test Devices | ||
| Производитель: | Texas Instruments | ||
| Спецификация: | 4516584.pdf | ||
| Детальное описание компонента 74ABTH182502APMG4 | |||
| Упаковка / блок | LQFP-64 | Упаковка | Tube |
|---|---|---|---|
| Вид монтажа | SMD/SMT | Размер фабричной упаковки | 160 |
Популярные товары:
| Изображение | Название | Производитель | Описание | Спецификация | Кол-во | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
NSDEMN11XV6T1 | ON Semiconductor | Диоды (общего назначения, силовые, импульсные) 80V 100mA Quad | --- |
|
|
 |
FS150R12KT4_B11 | Infineon Technologies | Модули биполярных транзисторов с изолированным затвором (IGBT) N-CH 1.2KV 150A | --- |
|
|
|
|
DAC121S101CIMMX | National Semiconductor (TI) | ЦАП (цифро-аналоговые преобразователи) | 2775941.pdf |
|
|
|
|
TC74VHC273FT(ELK,M | Toshiba | Триггеры Flip-Flop | 7846735.pdf |
|
|
|
|
09062316822820 | --- | Прямоугольные разъемы | --- |
|