SN74BCT8374ADWG4
|
Кол-во:
Заказать Доставка: 2-3 недели
|
||
| Название: | SN74BCT8374ADWG4 | ||
| Описание: | Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device | ||
| Производитель: | Texas Instruments | ||
| Спецификация: | 4478151.pdf | ||
| Детальное описание компонента SN74BCT8374ADWG4 | |||
| Упаковка / блок | SOIC-24 | Упаковка | Tube |
|---|---|---|---|
| Вид монтажа | SMD/SMT | Размер фабричной упаковки | 25 |
Популярные товары:
| Изображение | Название | Производитель | Описание | Спецификация | Кол-во | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
TLC7628CDWRG4 | Texas Instruments | ЦАП (цифро-аналоговые преобразователи) 8-Bit 0.1 us Dual MDAC Parallel Input | 2673078.pdf |
|
|
 |
25LC010A-E/MS | --- | Микросхемы памяти | --- |
|
|
|
|
AT73C202J | --- | Схемы управления питанием | --- |
|
|
|
|
ACA-20RM-4-AC4-RL-C | --- | Панельные измерительные приборы | --- |
|
|
|
|
5777 | --- | Комплектующие для испытательного оборудования | --- |
|