MC100E241FNR2
|
Кол-во:
Заказать Доставка: 2-3 недели
|
||
| Название: | MC100E241FNR2 | ||
| Описание: | Регистры 5V ECL 8-Bit | ||
| Производитель: | ON Semiconductor | ||
| Спецификация: | |||
| Детальное описание компонента MC100E241FNR2 | |||
| Тип логики | ECL | Семейство логических элементов | ECL |
|---|---|---|---|
| Количество контуров | Triple | Максимальная тактовая частота | 900 GHz |
| Время задержки распространения | 0.975 ns | Напряжение питания (макс.) | +/- 5.7 V |
| Максимальная рабочая температура | + 85 C | Упаковка / блок | PLCC-28 |
| Упаковка | Reel | Функция | Scannable Register |
| Минимальная рабочая температура | 0 C | Вид монтажа | SMD/SMT |
| Размер фабричной упаковки | 500 | Напряжение питания (мин.) | +/- 4.2 V |
Популярные товары:
| Изображение | Название | Производитель | Описание | Спецификация | Кол-во | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
MAX038CWP+ | Maxim Integrated Products | Тактовые генераторы и продукция для поддержки | 6444588.pdf |
|
|
 |
CD4063BMTG4 | Texas Instruments | ИС, компараторы 4-Bit Magnitude Comparators | 9495032.pdf |
|
|
 |
NJM2403M | NJR | ИС, компараторы Dual Single Supply | --- |
|
|
|
|
TND316S-TL-E | ON Semiconductor | Инвертеры EXPD DRIVER 1A 25V | --- |
|
|
 |
74LVT18512DGGRE4 | Texas Instruments | Специальные функциональные логические элементы 3.3V ABT Scan Test Device | 4532755.pdf |
|