DAC8560IBDGKR
|
Кол-во:
Заказать Доставка: 2-3 недели
|
||
| Название: | DAC8560IBDGKR | ||
| Описание: | ЦАП (цифро-аналоговые преобразователи) 16-Bit Ultra-Low Glitch Volt Out DAC | ||
| Производитель: | Texas Instruments | ||
| Спецификация: | 2021745.pdf | ||
| Детальное описание компонента DAC8560IBDGKR | |||
| Количество преобразователей | 1 | Количество выходов ЦАП | 1 |
|---|---|---|---|
| Курс конвертации | 200 KSPs | Разрешение | 16 bit |
| Тип интерфейса | 3-Wire, Microwire, QSPI, Serial, SPI | Время стабилизации | 12 us |
| Напряжение питания (макс.) | 5.5 V | Напряжение питания (мин.) | 2.7 V |
| Максимальная рабочая температура | + 105 C | Вид монтажа | SMD/SMT |
| Упаковка / блок | VSSOP | Упаковка | Reel |
| Минимальная рабочая температура | - 40 C | Тип выхода | Voltage |
| Размер фабричной упаковки | 2500 | Опорное напряжение | Internal or External |
Популярные товары:
| Изображение | Название | Производитель | Описание | Спецификация | Кол-во | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
NCP1422LEDGEVB | ON Semiconductor | Средства разработки интегральных схем (ИС) управления питанием | --- |
|
|
 |
74LVC1G04GM,132 | NXP Semiconductors | Инвертеры SINGLE 2-INPUT NOR | 1077944.pdf |
|
|
 |
74LVTH182502APMRG4 | Texas Instruments | Специальные функциональные логические элементы 3.3V ABT Scan Test Devices | 4535249.pdf |
|
|
 |
LC4128C-75T128C | --- | Программируемые логические интегральные схемы | --- |
|
|
|
|
B65885A0000R087 | --- | ЭМП и РЧП | --- |
|